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苹果否认声明:iPhone X 的 Face ID 精度规格并未改变

来源:智能硬件内容频道 作者:adaddaaa1 发表于:2017-10-26 10:42:23

   10 月 26 日消息,即将在 11 月 3 日正式发售的 iPhone X 此前屡传遇到了生产问题,原因主要出在了新的 Face ID 模块上。本周三彭博社报道称,苹果为了让供应商更快地生产 iPhone X ,目前已经降低了其面部识别模块 Face ID 的制造规格。

 

  而在北京时间今天凌晨,苹果公司对彭博社的报道作出否认。苹果公司发出声明称:「彭博社有关苹果公司降低了 Face ID 精度规格的报道的是完全错误的。Face ID 的质量和精度并未改变,随机的某个人利用 Face ID 功能解锁你的 iPhone 的概率仍旧仅为 100 万分之一。」

  据了解,Face ID 模块的生产难点在于其扫描 3 万个面部识别点的组件,这也是 iPhone X 的核心量产问题所在。彭博社的报道援引了熟知的消息人士的言论称,苹果公司放宽了 Face ID 系统传感器的某些技术规格要求,从而加快了部件测试的速度。

 

  在 9 月 12 日苹果公司召开的秋季新品发布会上,苹果公司公布了 iPhone X 的新解锁与认证技术 Face ID,用来取代指纹识别 Touch ID。Face ID 的准确性为 1000000:1,优于 Touch ID 的 50000:1,而彭博社的报道并未明确说明苹果公司是在宣布这一精度以前还是之后放宽了要求的。

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